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Armazenamento em Alta Temperatura

O ensaio avalia a performance do componente semicondutor antes e depois de ser submetido a um armazenamento em alta temperatura atendendo a Norma ABNT NBR IEC 60749-6 – Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 6: Armazenamento em alta temperatura – Item 4.

Finalidade

O Ensaio estabelece um padrão exigente de qualidade e garante para o usuário deste dispositivo semicondutor um bom desempenho durante a montagem e o uso final. Para a montagem de placas, a qualidade de componentes é crucial para o comportamento durante todo o manuseio em produção e durante o emprego no produto.

Norma e/ou Procedimento Atendidos

  • ABNT NBR IEC 60749-6 – Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climáticos Parte 6: Armazenamento em alta temperatura – Item 4.
  • PO-LABINDT-001 – Ensaio de Armazenamento em alta temperatura

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